大庆S wideLarge Area 3D Profiler

类别:

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产品描述

S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。