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产品描述
系列的 Opticline C 轴测量系统可提供 1 μm 以上极高的量具能力。可以选用不同的配置等级，例如高精度 C 轴或者多传感器，针对您的需求调整性能。Opticline C 系列具有极高的灵活性，同时还有极高的精度和稳定性。
系列的亮点
– 测量瞬间完成，非常迅速；测量精密，
精度等级达到 μm 级
– 测量时摄像头双向探测，可探测的工件直
径可达 80 mm
– 光学测量系统具有独一无二的缩放功能，
所以在测量最大直径为140 mm 的工件时
分辨率和质量也丝毫不受损失
– 头架和尾架的设计独特，工件更换迅速，精度高
– 工件全自动定位，简单方便
– 数据传输不仅迅速，而且实时处理
– 具有自监控功能，既适用于精测室，
也适用于生产现场
– 低维护，强大的测量系统
衍生产品和选配项目
– 触觉触觉系统T3D或TSP，用于测量额外的长度和形
状检查功能
– 具备形状测量能力和旋转测量精度的高精密头架
– 电脑主机可与设备一体式集成
– 保证测量结果不受环境负面影响的卷帘门
– 保证更高柔性以适合更多工件测量的气动夹紧系统
– 更适合上下料高度并可提供更多存放位置的工作台架
